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HighFinesse社
LWA

光線幅&周波数ノイズ測定器

スペクトラムアナライザ

HighFinesse社のLWAは、狭線幅のスペクトル幅と周波数ノイズ、RINを測定・解析できる、コンパクトな測定器です。可動部品を使用していない干渉計を使用し、高精度、高レゾリューションで、固有線幅と実効線幅の測定が可能です。また、周波数ノイズの解析により、周波数ドリフトの原因となるノイズ源対策に便利です。USBでPCに接続するだけで簡単に使用可能です。PIDオプションで、光線幅やRINノイズのアクティブコントロールが可能です。現在は1530-1565(c-band)のみ販売しておりますが、近赤外モデルも開発中です。

より線幅が広いレーザには、380nmから対応可能なLWA-100kをご利用下さい。

スペック
波長域 / 特徴
  • スタンダード: 1530 ~1565 nm (c-band )
  • 近赤外モデル開発中
  • 周波数ノイズ、スペクトル線形および相対強度ノイズ(RIN)解析
  • 固有線幅: < 500 Hz~ 1 MHz
  • 実効線幅: < 2 kHz ~ 1 MHz
  • 周波数ノイズ分解能: 10 Hz/√Hz、ダイナミックレンジ 50dB @ 10Hz ~ 2 MHz
  • RIN: -150 dB/√Hz
  • 可動部品がなく、音響ノイズに対しても高安定
  • PIDオプション: 周波数ノイズ・RINノイズ低減の為のエラーシグナルを出力
  • USB接続でPC上で解析
測定画面
光スペアナ

ECDLとファイバレーザの線幅測定例。

フリーランのECDLとPIDオプションでロックしたECDLとファイバーレーザの線幅を示しています。

光スペクトラムアナライザ

ECDLとファイバレーザの周波数ノイズ測定例

狭線幅レーザの周波数ノイズを、2KHz 以下の分解能で測定が可能です。出力信号はデジタイザユニットによって解析し、USB接続されたPC上に表示されます。

スペック
Model LWA-1k-1550
Wavelength Range:  
c-band ( 1530-1650nm )
NIR 開発中
required input power *1 4 mW
Mesurement mode  
Narrow band *2  
Frequency noise spectrum  
Frequency range *3 10 - 1000 Hz
dynamic range 50 dB
Frequency noise density range *4 10 - 100 kHz/√Hz
Minimum frequency resolutyon 0.1 Hz
Instrinsic linewidth range *5 500 Hz -1 MHz
Effective linewudth range ( (β-separation )*6 3 kHz -1 MHz
Relative intencity noise limit -150 dB/ Hz ( min. )
Lineshape spectrum  
Effective linewidth range ( FWHM )*6 2 kHz - 1 MHz
Minimum peak resolution 2 KHz
Line width accuracy <1 KHz
Dynamic range 35 dB
Digitizer module ( include )  
Sample rate 31 M Sa/s ( max. )
resolution 16 bits
Acquisition time *7 0.1 s ( typ )
Evaluation time *8 1 s ( typ )
Interface  
Communication USB2.0 or higher
Optical PM FC/APC
Special feature  
Error signal generator *9 +-7.5 V ( 50 Ohm , +-15V ( high impedance )
Dimention 220 x 334 x 96 mm
Weight 8 kg
PDF Download ⇒カタログダウンロード

NOTE:

1) Depending mainly on the laser linewidth. The required input power increases with the laser linewidth.

2) Device only for single-mode and cw laser sources.

3) Frequency range of the frequency-noisespectrum. The following specifications are only valid within this range.

4) Range for detectable frequency noise in the given frequency range and optimized acquisition parameters.

5) Intrinsic linewidth: Limited by fundamental quantum processes. Determined by the noise floor (white noise) of the frequency noise spectrum and calculated by: noise density (in Hz²/Hz) times π (rule of thumb). This value is most commonly denoted as “laser linewidth” by laser manufacturer.

6) Effective linewidth: Combination of intrinsic linewidth and additional broadening mechanisms (thermal, electronical and acoustic noise). Determination by β-separation method (noise density spectrum) or curvefitting procedure (lineshape spectrum).

7) Adjustable by frequency resolution and frequency range. Avoiding aliasing-effects the frequency range should be twice the desired range of interest. Low values for frequency resolution increase acquisition and evaluation times

8) Depending mainly on RAM, CPU speed and settings.

9) For use in combination with a PID controller (not included) for frequency noise or RIN reduction.

*仕様は予告なく変更になる場合がございます。

更新 2018/05/25